影像儀使用中的相關(guān)技術(shù)語言

 

    影像測(cè)量?jī)x是屬于高精密測(cè)量檢測(cè)儀器，用途非常廣泛，而且涉及到的應(yīng)用領(lǐng)域相對(duì)來說，也是比較多的。影像測(cè)量?jī)x是通過光電耦合器件采集，經(jīng)過軟件處理成像，顯示在計(jì)算機(jī)屏幕上，利用測(cè)量軟件進(jìn)行了幾何運(yùn)算得出最終結(jié)果的非接觸式影像測(cè)量?jī)x。

 

    下面億輝光電科技有限公司為大家來介紹和說明一下影像測(cè)量?jī)x使用中的相關(guān)技術(shù)術(shù)語到底都有哪些。

 

影像測(cè)量?jī)x使用中的相關(guān)技術(shù)術(shù)語如下：

 

    長(zhǎng)度測(cè)量示值誤差。簡(jiǎn)稱：EL。影像測(cè)量?jī)x對(duì)已校準(zhǔn)長(zhǎng)度的標(biāo)準(zhǔn)器測(cè)量，測(cè)量值與標(biāo)準(zhǔn)器實(shí)際值的差值。

 

    聚焦平面長(zhǎng)度測(cè)量示值誤差。簡(jiǎn)稱：Exy。在平行于聚焦平面方向上的長(zhǎng)度測(cè)量示值誤差。

 

注1：在本標(biāo)準(zhǔn)中，XY平面默認(rèn)為平行于聚焦平面，若不然，則須作相應(yīng)標(biāo)注(例如EXZ或EYZ)。

 

注2：若僅沿平行于X軸方向或僅沿平行于y軸方向得到的示值誤差，可表示為EX或EY。

 

    光軸方向長(zhǎng)度測(cè)量示值誤差。簡(jiǎn)稱：Ez。在平行于影像系統(tǒng)光軸方向上的長(zhǎng)度測(cè)量示值誤差。

 

注：在本標(biāo)準(zhǔn)中，Z軸默認(rèn)為平行于影像系統(tǒng)光軸，若不然。則須作相應(yīng)標(biāo)注(例如Ex或EY)。

 

    截面原點(diǎn)一致性誤差。簡(jiǎn)稱：EO。影像測(cè)量?jī)x在不同截面上測(cè)量時(shí)，各截面坐標(biāo)原點(diǎn)投影于XY平面的一致程度。

 

    視窗長(zhǎng)度測(cè)量示值誤差。簡(jiǎn)稱：ELV。在影像測(cè)量?jī)x運(yùn)動(dòng)平臺(tái)不做任何移動(dòng)的情況下，影像系統(tǒng)視場(chǎng)范圍內(nèi)的任何位置上對(duì)已校準(zhǔn)長(zhǎng)度的標(biāo)準(zhǔn)器進(jìn)行視窗測(cè)量，測(cè)量值與標(biāo)準(zhǔn)器實(shí)際值的差值。

 

    探測(cè)誤差。簡(jiǎn)稱:EP2D。在影像測(cè)量?jī)x運(yùn)動(dòng)平臺(tái)按序移動(dòng)并且采集了分布在可用視場(chǎng)內(nèi)的點(diǎn)的情況下，影像系統(tǒng)用離散點(diǎn)的方法對(duì)圓形實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)器進(jìn)行測(cè)量，通過最小二乘法擬合處理所測(cè)數(shù)據(jù)得到的半徑范圍。

 

注：檢測(cè)圓名義上應(yīng)平行于影像系統(tǒng)的聚焦平面。

 

    成像誤差。簡(jiǎn)稱：E1。在影像測(cè)量?jī)x運(yùn)動(dòng)平臺(tái)不做任何移動(dòng)的情況下，影像系統(tǒng)用離散點(diǎn)的方法對(duì)圓形實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)器進(jìn)行測(cè)量，通過最小二乘法擬合處理所測(cè)數(shù)據(jù)得到的半徑范圍。

 

注：檢測(cè)圓名義E應(yīng)平行于影像系統(tǒng)的聚焦平面。

 

    影像分辨力。簡(jiǎn)稱：R。對(duì)成像在影像系統(tǒng)視場(chǎng)范圍內(nèi)的線紋間距的分辨能力。